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日立分析仪器(上海)有限公司(浦东分公司)>镀层厚度测量仪> 日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪

日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪

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  • 型号
  • 品牌 日立仪器(上海)有限公司
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 上海市
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更新时间:2017-07-14 10:32:11浏览次数:1369

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产品简介

品牌 日立/Hitachi
日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪在高功率X射线管和检测器上配备有比例计数管和半导体检测器。可对应薄膜/合金膜以及极微小部件的测量需求,X射线荧光镀层厚度测量仪同时也可以支持针对其他异物进行定性分析和材料的成分分析。

详细介绍

日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪规格参数:

可测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi)
X射线源:小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶) 
                   管电压: 50kV 管电流: 1.5mA Be 窗
滤波器:一次滤波器:Mo
照射方式:上方垂直照射方式

检测器:比例计数管+半导体检测(无需液氮)
准直器:圆形:Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm

安全性能:样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能

样品图像对焦方式:激光自动对焦

样品观察:彩色CCD摄像头 倍率光学器 卤素灯照明
样品平台大小及承重:    FT9400:240mm(W) ×170mm(D) 10kg 
                                               FT9450:420mm(W) ×330mm(D) 5kg 
                                               FT9455:700mm(W) ×600mm(D) 3kg

重量:FT9400/SFT9450:125kg (不含电脑) 
             FT9455:130kg(不含电脑)
修正功能:底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作:配备MS-EXCEL® MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书) 
测量能谱与样品图像保存功能



日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪特点:

1. 日立FT9400系列X射线荧光镀层厚度测量仪搭载有高功率X射线管及双检测器(半导体检测器+比例计数管)
    可对应组合复杂的应用程序,特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。
    能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
    对于含Br的电路板,可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量 
    可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度
2. 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件
    对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等,适用于广泛的运用领域
3. 适用超微小面积的测量
    标准配备的15μmΦ的准直器,可对超微小面积进行测量。
4. 搭载了可3段切换的变焦距光学系统
5. 搭载高精度样品平台,更可测量大型线路板(SFT9455)
6. 自动对焦功能 
     配备激光自动对焦功能,能够准确对焦,提高测量效率。
7. 搭载测试报告自动生成软件

以上信息由企业自行提供,信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责,化工仪器网对此不承担任何保证责任。
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